| 1997 | Invariant-mass and [gamma]-ray spectroscopy using secondary, radioactive ion beams | Cub, J.; Holeczek, Jacek; Wan, S.; Aumann, T.; Baumann, T.; Boretzky, K.; Dostal, W.; Eberlein, B.; Emling, H.; Ender, Ch.; Elze, Th.W.; Geissel, H.; Gerl, J.; Grunschloss, A.; Habs, D.; Happ, T.; Holzmann, R.; Iwasa, N.; Kaspar, M.; Kleinbohl, A.; Kock, F.; Koschorrek, O.; Kratz, J.V.; Kraus, G.; Kulessa, R.; Leifels, Y.; Leistenschneider, A.; Munzenberg, G.; Nickel, F.; Peter, I.; Reiter, P.; Schaffner, H.; Scheidenberger, C.; Schrieder, G.; Schwalm, D.; Schubart, R.; Schubert, R.; Schwab, W.; Simon, H.; Stengel, G.; Stroth, J.; Summerer, K.; Surowiec, Alicja; Thirolf, P.; Wajda, E.; Wollersheim, H.J.; Zentek, A. |