| 2019 | Search for heavy neutrinos with the T2K near detector ND280 | Abe, K.; Akutsu, R.; Ali, A.; Andreopoulos, C.; Anthony, L.; Antonova, M.; Aoki, S.; Ariga, A.; Ashida, Y.; Awataguchi, Y.; Azuma, Y.; Iwamoto, K.; Izmaylov, A.; Jamieson, B.; Jesus, C.; Jiang, M.; Johnson, S.; Jonsson, P.; Jung, C.K.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A.C.; Ban, S.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Karlen, D.; Katori, T.; Kato, Y.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kim, H.; Barbi, M.; Kim, J.; King, S.; Kisiel, Jan; Knight, A.; Knox, A.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Koga, T.; Koller, P.P.; Konaka, A.; Barker, G. J.; Kormos, L.L.; Koshio, Y.; Kowalik, K.; Kubo, H.; Kudenko, Y.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Kuze, M.; Labarga, L.; Lagoda, J.; Barr, G.; Lamoureux, M.; Lasorak, P.; Laveder, M.; Lawe, M.; Licciardi, M.; Lindner, T.; Liptak, Z.J.; Litchfield, R.P.; Li, X.; Longhin, A.; Barry, C.; Lopez, J.P.; Lou, T.; Ludovici, L.; Lu, X.; Lux, T.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Manly, S.; Maret, L.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Marino, A.D.; Martin, J.F.; Martins, P.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matveev, V.; Mavrokoridis, K.; Ma, W.Y.; Mazzucato, E.; McCarthy, M.; Bench, F.; McCauley, N.; McFarland, K.S.; McGrew, C.; Mefodiev, A.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Miura, M.; Berardi, V.; Molina Bueno, L.; Moriyama, S.; Morrison, J.; Mueller, Th.A.; Murphy, S.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, A.; Berkman, S.; Nakamura, K.G.; Nakamura, K.; Nakamura, K.D.; Nakanishi, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Nantais, C.; Niewczas, K.; Nishikawa, K.; Berner, R. M.; Nishimura, Y.; Nonnenmacher, T.S.; Novella, P.; Nowak, J.; O’Keeffe, H.M.; O’Sullivan, L.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Oryszczak, W.; Oser, S.M.; Berns, L.; Owen, R.O.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Palomino, J.L.; Paolone, V.; Parker, W.C.; Paudyal, P.; Pavin, M.; Payne, D.; Pickering, L.; Bhadra, S.; Pidcott, C.; Pinzon Guerra, E.S.; Pistillo, C.; Popov, B.; Porwit, Kamil; Posiadala-Zezula, M.; Pritchard, A.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Radicioni, E.; Bienstock, S.; Radics, B.; Ratoff, P.N.; Reinherz-Aronis, E.; Riccio, C.; Rondio, E.; Rossi, B.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruggeri, A.C.; Rychter, A.; Blondel, A.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Sasaki, S.; Scantamburlo, E.; Schloesser, C.M.; Scholberg, K.; Schwehr, J.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Bolognesi, S.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shah, R.; Shaikhiev, A.; Shaker, F.; Shaw, D.; Shaykina, A.; Shiozawa, M.; Smirnov, A.; Smy, M.; Bourguille, B.; Sobczyk, J.T.; Sobel, H.; Sonoda, Y.; Steinmann, J.; Stewart, T.; Stowell, P.; Suda, Y.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S.Y.; Boyd, S. B.; Suzuki, Y.; Sztuc, A.A.; Tacik, R.; Tada, M.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tamura, R.; Tanaka, H. K.; Tanaka, H.A.; Thakore, T.; Brailsford, D.; Thompson, L.F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Tsui, K.M.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Uno, W.; Vagins, M.; Vallari, Z.; Bravar, A.; Vargas, D.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vladisavljevic, T.; Volkov, V.V.; Wachala, T.; Walker, J.; Wang, Y.; Wark, D.; Wascko, M.O.; Bronner, C.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M.J.; Wilkinson, C.; Wilson, J.R.; Wilson, R.J.; Wret, C.; Yamada, Y.; Yamamoto, K.; Yamasu, S.; Buizza Avanzini, M.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yen, S.; Yershov, N.; Yokoyama, M.; Yoshida, T.; Yu, M.; Zalewska, A.; Calcutt, J.; Zalipska, J.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E.D.; Zito, M.; Zsoldos, S.; Zykova, A.; Campbell, T.; Cao, S.; Cartwright, S. L.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chappell, A.; Checchia, C.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Christodoulou, G.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Coplowe, D.; Cudd, A.; Dąbrowska, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Denner, P.F.; Dennis, S.R.; Densham, C.; Di Lodovico, F.; Dokania, F.; Dolan, S.; Drapier, O.; Duffy, K.E.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Emery-Schrenk, S.; Ereditato, A.; Fernandez, P.; Feusels, T.; Finch, A. J.; Fiorentini, G.A.; Fiorillo, G.; Francois, C.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fujita, R.; Fukuda, D.; Fukuda, Y.; Gameil, K.; Giganti, C.; Gizzarelli, F.; Golan, T.; Gonin, M.; Hadley, D.R.; Haegel, L.; Haigh, J.T.; Hamacher-Baumann, P.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hastings, N. C.; Hayashino, T.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Holeczek, Jakub; Hong Van, N.T.; Hosomi, F.; Iacob, F.; Ichikawa, A.K.; Ikeda, M.; Inoue, T.; Intonti, R.A.; Ishida, T.; Ishii, T.; Ishitsuka, M. |