| 2020 | Search for Electron Antineutrino Appearance in a Long-Baseline Muon Antineutrino Beam | Abe, K.; Akutsu, R.; Ali, A.; Alt, C.; Andreopoulos, C.; Anthony, L.; Antonova, M.; Aoki, S.; Ariga, A.; Asada, Y.; Ashida, Y.; Pintaudi, G.; Pinzon Guerra, E. S.; Pistillo, C.; Popov, B.; Berns, L.; Yoshida, T.; Porwit, Kamil; Posiadała-Zezula, M.; Pritchard, A.; Golan, T.; Li, X.; Jamieson, B.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Iwamoto, K.; Radicioni, E.; Radics, B.; Ratoff, P. N.; Yu, M.; Reinherz-Aronis, E.; Riccio, C.; Longhin, A.; Seiya, Y.; Bhadra, S.; Rondio, E.; Shvartsman, A.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruggeri, A. C.; Izmaylov, A.; Ruggles, C. A.; Zalewska, A.; Ludovici, L.; Smirnov, A.; Wood, K.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Soler, J. P.; Sonoda, Y.; Steinmann, J.; Bolognesi, S.; McGrew, C.; Lu, X.; Suvorov, S.; Jung, C. K.; Kameda, J.; Atkin, E. T.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Sztuc, A. A.; Tada, M.; Tajima, M.; Lux, T.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Mefodiev, A.; Gonin, M.; Zalewska, A.; Tanaka, H. K.; Bourguille, B.; Jenkins, S. J.; Tanaka, H. A.; Tanaka, S.; Shaikhiev, A.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Towstego, T.; Gorin, A.; Tsui, K. M.; Zalipska, J.; Metelko, C.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Machado, L. N.; Uchida, Y.; Jesús-Valls, C.; Boyd, S. B.; W. Uno, W.; Vagins, M.; Guigue, M.; Valder, S.; Vallari, Z.; Sakashita, K.; Vargas, D.; Magaletti, L.; Mezzetto, M.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vinning, G. S.; Vladisavljevic, T.; Jiang, M.; Hadley, D. R.; Volkov, V. V.; Brailsford, D.; Wachala, T.; Mahn, K.; Batkiewicz-Kwaśniak, M.; Walker, J.; Walsh, J. G.; Minamino, A.; Wang, Y.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Haigh, J. T.; Weber, A.; Wendell, R.; Yasutome, K.; Johnson, S.; Wilking, M. J.; Zaremba, K.; Wilkinson, C.; Bravar, A.; Wilson, J. R.; Mineev, O.; Wilson, R. J.; Hamacher-Baumann, P.; Zarnecki, G.; Fujita, R.; Bronner, C.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.; Zykova, A.; Kabirnezhad, M.; Sánchez, F.; Bubak, Arkadiusz; Munteanu, L.; Beloshapkin, A.; Iacob, F.; Buizza Avanzini, M.; Calcutt, J.; Campbell, T.; Cao, S.; Cartwright, S. L.; Catanesi, G.; Cervera, A.; Chappell, A.; Schloesser, M.; Malek, M.; Hartz, M.; Checchia, C.; Kaboth, A. C.; Miura, M.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Christodoulou, G.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Cook, L.; Manly, S.; Coplowe, D.; Hasegawa, T.; Scholberg, K.; Cudd, A.; Dąbrowska, A.; De Rosa, G.; Molina Bueno, L.; Kajita, T.; Dealtry, T.; Denner, P. F.; Barrow, D.; Dennis, S. R.; Densham, C.; Wret, C.; Di Lodovico, F.; Bienstock, S.; Dokania, N.; Dolan, S.; Doyle, T. A.; Drapier, O.; Moriyama, S.; Maret, L.; Dumarchez, J.; Kakuno, H.; Dunne, P.; Jakkapu, M.; Eklund, L.; Emery-Schrenk, S.; Schwehr, J.; Ereditato, A.; Fernandez, P.; Feusels, T.; Marino, A. D.; Finch, A. J.; Fiorentini, G. A.; Morrison, J.; Fiorillo, G.; Hastings, N. C.; Francois, C.; Awataguchi, Y.; Friend, M.; Scott, M.; Fujii, Y.; Marti-Magro, L.; Hayashino, T.; Karlen, D.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Holeczek, Jacek; Hong Van, N. T.; Murphy, S.; Yamada, Y.; Kasetti, S. P.; Shaker, F.; McCauley, N.; Kataoka, Y.; Katori, T.; Kato, Y.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kikawa, T.; Ban, S.; Yamamoto, K.; Martin, J. F.; Kim, H.; Nagai, Y.; Sekiguchi, T.; Kim, J.; King, S.; Kisiel, Jan; Knight, A.; Knox, A.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Maruyama, T.; Yanagisawa, C.; Koga, T.; Konaka, A.; Barbi, M.; Sekiya, H.; Nakadaira, T.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Kostin, A.; Kowalik, K.; Fukuda, D.; Kubo, H.; Jonsson, P.; Kudenko, Y.; Kukita, N.; Kuribayashi, S.; Kurjata, R.; Sgalaberna, D.; Kutter, T.; Nakahata, M.; Barker, G. J.; Mine, S.; Kuze, M.; Labarga, L.; Yang, G.; Lagoda, J.; Lamoureux, M.; Laveder, M; Lawe, M.; Licciardi, M.; Shah, R.; Lindner, T.; Matsubara, T.; Litchfield, R. P.; Ichikawa, A. K.; Liu, L.; Yano, T.; Barr, G.; Matsushita, K.; Nakajima, Y.; Matveev, V.; Mavrokoridis, K.; Mazzucato, E.; Barry, C.; McCarthy, M.; Shaykina, A.; Fukuda, R.; Nakamura, A.; Rychter, A.; Nakamura, K. G.; Nakamura, K.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Nantais, C.; Ngoc, T. V.; Ikeda, M.; Fukuda, Y.; Niewczas, K.; Blondel, A.; Bravo Berguño, D.; Bench, F.; Nishikawa, K.; Nishimura, Y.; Nonnenmacher, T. S.; Nova, F.; Novella, P.; Nowak, J.; Fusshoeller, K.; Nugent, J. C.; O’Keeffe, H. M.; Ishida, T.; Yen, S.; Shiozawa, M.; O’Sullivan, L.; Odagawa, T.; Berardi, V.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Mueller, Th. A.; Oser, S. M.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Yershov, N.; Palomino, J. L.; Shorrock, W.; Ishii, T.; Paolone, V.; Parker, W. C.; Gameil, K.; Pasternak, J.; Berkman, S.; Paudyal, P.; Pavin, M.; Payne, D.; Yokoyama, M.; Penn, G. C.; Pickering, L.; McFarland, S.; Pidcott, C.; Giganti, C.; Ishitsuka, M. |